Основы сканирующей зондовой микроскопии

Main
Physics
Основы сканирующей зондовой микроскопии

Основы сканирующей зондовой микроскопии

Миронов В.Л.

0 / 0

你有多喜欢这本书？

下载文件的质量如何？

下载该书，以评价其质量

下载文件的质量如何？

种类:

年:

2005

出版社:

Техносфера

语言:

russian

页:

140

ISBN 10:

5948360342

ISBN 13:

9785948360348

文件:

DJVU, 7.37 MB

IPFS:

,

russian, 2005

下载 (djvu, 7.37 MB)

正在转换

转换为失败

您可能会感兴趣

Миронов В. Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Миронов В.Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Кухаренко, Л. В. — Сканирующая зондовая микроскопия для анализа медико-биологических объектов

Габдуллин П.Г. и др. — Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия.

Тарасова Н. В. — Атомно-силовая микроскопия в материаловедении наносистем

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. — Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

Авачёв А. П., Вишняков Н. В., Гололобов Г. П., Митрофанов К. В. — Методические пособия для проведения лабораторных работ по направлению «Наноматериалы»

Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. — Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Корнилов В. М., Галиев А.Ф.;рец.: Асфандиаров Н.Л., Рахмеев Р.Г. — Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания

Баранов А.В., Литвин А.П., Парфенов П.С., Ушакова Е.В. — Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2. Лабораторный практикум

Корнилов В.М., Галиев А.Ф. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. — Исследование поверхности материалов методом сканирующей туннельной микроскопии

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. — Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно-силовой микроскопии

Демиховский В.Я., Филатов Д.О. — Исследование электронных состояний в низкоразмерных структурах методами сканирующей зондовой микроскопии

Гусенко И.В. — Изучение методов сканирующей зондовой микроскопии

Габдуллин П.Г., Костюченко З.А., Поречная Н.И. — Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия

Битюцкая Л.А. и др. (сост.) — Нанотехнологии в физике. Дистанционная лаборатория атомно-силовой микроскопии нанообъектов. Часть 1: Тестирование. Обработка и анализ изображения

Андреева Н.В., Габдуллин П.Г. — Физика и диагностика биомолекулярных систем. Исследования методами зондовой микроскопии

Булыгина Е.В., Макарчук В.В. и др. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Круглов А.В., Голубок А.О. — Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

Булыгина Е.В., Макарчук В.В., Панфилов Ю.В., Оя Д.Р., Шахнов В.А. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Лямкин А.И. — Экспериментальные методы исследований (Презентация)

Федоров А.В., Баранов А.В., Литвин А.П., Черевков С.А. — Специальные методы измерения физических величин

Кривелевич С. А., Насонова М. О., Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова — Сканирующая туннельная микроскопия (80,00 руб.)

Чистоедова И. А. — Оборудование для создания и исследования свойств объектов наноэлектроники

Коллектив авторов — Сергеев, В. А. Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1. : методические указания к лабораторным работам

Коллектив авторов — Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1 : лабораторный практикум

Г. Бинниг, Г. Рорер — Сканирующая туннельная микроскопия - от рождения к юности

Миронов В. Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Методичка. — Исследование наноматериалов с помошчью сканируюшчей зондовой микроскопии

Физический факультет МГУ им. М.В. Ломоносова — Современные достижения бионаноскопии: Сборник тезисов Второй международной конференции (Москва, 17-18 июня 2008 г.)

Филатов Д.О., Круглов А.В. — Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы

Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю. — Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме: Описание лабораторной работы

关键词

поверхности

микроскопии

сканирующей

кантилевера

зондовой

колебаний

микроскопия

поверхностью

изображение

туннельного

изображения

взаимодействия

обратной

зондовых

микроскопов

напряжение

образцом

микроскопа

образцов

расстояния

изображений

контакта

микроскоп

приводит

сканирования

зондового

напряжения

различных

определяется

позволяет

сканировании

расстояние